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maxLIGHTスリットレス平面場XUV分光計
ドイツHP Spectroscopy社は2012年に設立され、科学機器のグローバルベンダーであり、先進的な開発者である世界の科学研究および工業分野の顧客のための最適なソリューションのカスタマイズに取り組んでいます。製品ラインはXASシステム、XUV/VUV/X-ray分光計、Beamline製品など
製品の詳細

ドイツHP Spectroscopy社は2012年に設立され、科学機器のグローバルベンダーであり、先進的な開発者である世界の科学研究および工業分野の顧客のための最適なソリューションのカスタマイズに取り組んでいます。製品ラインはXASシステム、XUV/VUV/X-ray分光計、Beamline製品などを含む。主要チームはX-ray、スペクトル、格子設計、プラズマ物理、Beamlineなどの分野の専門家で構成されている。そして、世界をリードする研究機関の科学者と緊密な協力を維持し、最先端技術に注目し、製品の反復と革新を維持する。

  maxLight製品の利点

●平坦場すれすれ入射分光計

●独自のスリットなし設計

●極高回折効率格子

●波長範囲1 ~ 200 nm

●内蔵スポット画像解析機能

●コンパクトでモジュール化された設計

スリットのない設計のおかげで、maxLIGHTは業界で極めて高い光収集効率と極めて高い光束を提供しています。収差補正された平坦場波長カバー範囲は1 nm〜200 nmであり、広範なスペクトル帯域幅、例えば各格子5〜80 nmを有する。モジュール化された設計は、さまざまな実験環境と構成にマッチしています。maxLIGHTは、統合されたスリットホルダとフィルタ挿入ユニット、および電気格子ロケータを有する。

  柔軟で完全な検出器オプション:

高解像度および高ダイナミックレンジ用のXUV CCDカメラ

最も広い波長カバーとゲート制御、および強化された検出のためのMCP/CMOS検出器。

  スリットなし設計

HPS社独自の分光計設計は光源直接撮像技術を用いている。したがって、狭い入口スリットを必要とせず、入射光を最大限に集めることができる。従来の分光計アーキテクチャに比べて、到達検出器の光強度は20倍高くなり、この構造は日常動作の安定性も大幅に向上した。

  測定結果

阿秒XUVパルスを用いた適合スペクトル応用では、HHHGをmaxLIGHT XUV(左図)により特性化した。高調波は単光子遷移(青色矢印)に由来し、XUVとIR光の二光子遷移は光電子スペクトルのサイドバンドとして現れる(右図)。

maxLIGHT XUVにより測定したHHGスペクトル(右図)と25 fs基本周波数光パルスがkagoméフォトニック結晶ファイバ中で広幅化したスペクトル(左図)。ポンプエネルギーの増加に伴い、HHGに対するソリトン青方偏移の影響が明らかになった。

同じ信号強度では、標準分光計(破線)よりもmaxLIGHT pro分光計(実線)の分解能が明らかに高かった。等価なスペクトル分解能を得るには、従来の分光計技術は、信号強度を著しく低下させるために狭いスリットを設ける必要があった。

maxLIGHT XUVを用いて得られた150 kHzの再周波数におけるカットオフ領域内のHHHGスペクトル。CEPの変化はいくつかのCEP設定下で強度変調が消失し始めたことを示し、独立阿秒パルスの存在を示している。

参照スペクトル例は、maxLIGHT分光計の分解能を証明した。図に示すように、フェムト秒レーザパルスと固体ターゲットとの相互作用後、フィルターで濾過した後の高調波スペクトルである。高調波発生中に固有の微細構造スペクトルをmaxLIGHT分光計で明確に識別することができる。画像上半分:X線CCDカメラによって記録された元の画像。画像の下半分:カラム合成によって得られた同調スペクトル。

  技術パラメータ:

  一般的な用途:

●高調波発生源、

●アト秒科学

●強いレーザーと物質の相互作用

●自由電子レーザ

●レーザーと放電によるプラズマ源

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